射频器件可靠性试验设备 - 杭州高裕电子科技股份有限公司

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微波器件高温反偏老化测试系统

(HTRB-40B16C-RF、HTRB-40B32C-RF)

微波器件高温栅反偏老化测试系统

(HTGB-40B16C-RF、HTGB-40B32C-RF)

微波器件高温高湿反偏老化测试系统（H3TRB）

(H3TRB-40B16C-RF)

微波器件高加速寿命偏压老化测试系统（Hast）

(HAST-40B06C-RF)

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