Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。
适用范围:
适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行高温反向试验。
技术特点:
每颗器件的Vgs独立控制。
实时监测每个试验器件的Id、Ig。
控制上、下电时序。
全过程试验数据保存于硬盘中，可输出Excel试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。
