杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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大功率晶体管老化测试系统(壳温恒定)

符合标准:

MIL-STD-750、GJB-128等试验标准。

适用范围:

适用于F型、TO-3P/TO220、G型封装的大

功率三极管、MOS管等进行功率老化试验。

技术特点:

每个工位壳温度独立控制。

每个器件电流程序控制并自动反馈恒流。


技术性能

表格 p34.png