杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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可控硅老化测试系统

符合标准:

MIL-STD-750、GJB-128、AEC-Q101等试验标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的可控硅(闸流晶体管)寿命试验(功率循环)和耐压试验。 


技术性能

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