杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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高温栅反偏老化测试系统(单管、Ta型、电子开关保护)

符合标准:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的场效应管、IGBT单管等器件进行高温栅极反偏试验。

技术特点:

实时监测每个试验器件的漏电流,漏电流最小监控值1nA。

每个回路漏电流超上限电子开关断电保护。

全过程试验数据保存于硬盘中,可输出Excel试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。


技术性能

表格 p18.png